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關(guān)于MOFs表征,你想知道的都在這里!

更新時(shí)間:2025-10-10      點(diǎn)擊次數:453

近日,2025 年諾貝爾化學(xué)獎公布,授予北川進(jìn)(Susumu Kitagawa)、理查德·羅布森(Richard Robson)和奧馬爾·亞吉(Omar Yaghi),以表彰“他們對金屬-有機框架的發(fā)展"。


三位獲獎?wù)邉?chuàng )造了一種具有巨大空間的分子結構,使氣體和其他化學(xué)物質(zhì)能夠在其中流動(dòng)。這些結構被稱(chēng)為金屬有機框架(Metal–Organic Frameworks,簡(jiǎn)稱(chēng) MOFs),可用于從沙漠空氣中提取水分、捕獲二氧化碳、儲存有毒氣體,或催化化學(xué)反應。


金屬有機骨架材料(Metal–Organic Frameworks,簡(jiǎn)稱(chēng)MOFs)是一類(lèi)由金屬離子或金屬簇通過(guò)有機配體連接形成的多孔晶態(tài)材料(如圖1)。它們的結構可視作“金屬節點(diǎn)+有機橋梁"的三維網(wǎng)絡(luò ),既具無(wú)機材料的穩定性,又具有機化學(xué)的可設計性。憑借這種靈活的構筑方式,MOFs 幾乎可以由元素周期表中任意金屬與多種類(lèi)型的配體(如羧酸、咪唑、膦酸等)組成,從而實(shí)現孔徑、極性及化學(xué)環(huán)境的精確調控。

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圖1 金屬有機骨架示意圖


自20世紀90年代具永久孔隙的MOF首次問(wèn)世以來(lái),該領(lǐng)域已發(fā)展出數以千計的結構體系,如經(jīng)典的HKUST-1、MIL-101等。它們擁有超高比表面積與孔體積,可在氣體吸附、儲氫、分離、催化乃至藥物遞送等方向展現出獨特性能。部分柔性MOFs還能在吸附或溫度變化下發(fā)生可逆結構轉變,呈現出“呼吸效應"等動(dòng)態(tài)特征。正因其多樣、可調與功能化的特性,MOFs已成為多孔材料研究的核心之一,也為后續的吸附性能與表征方法研究提供了豐富的科學(xué)基礎。



MOFs表征


MOFs的基礎表征數據通常包括:粉末X射線(xiàn)衍射(PXRD)圖譜,用于確定材料的結晶性和相純度;氮氣(N2)吸附/脫附等溫線(xiàn),用于驗證材料的孔隙結構并計算其表觀(guān)比表面積。


此外,常用的補充表征技術(shù)和方法還包括:

  • 熱重分析(TGA),用于評估MOFs的熱穩定性,并在某些情況下用于估算孔體積;

  • 水穩定性測試,用于判斷MOFs在水中及不同pH環(huán)境下的結構穩定性;

  • 掃描電子顯微鏡(SEM),用于測量晶體尺寸和形貌,并可結合能量色散X射線(xiàn)光譜(EDS)分析元素組成與分布;

  • 核磁共振(NMR)光譜,用于分析樣品的整體純度,并可定量混合配體MOFs中的配體比例;

  • 電感耦合等離子體發(fā)射光譜(ICP-OES),用于測定樣品純度及元素比例;

  • 漫反射紅外傅里葉變換光譜(DRIFTS),用于確認框架中紅外活性官能團的存在或缺失;

  • 單晶X射線(xiàn)衍射(XRD),可提供材料的精確結構信息。


以下將簡(jiǎn)要介紹每種表征技術(shù)的樣品制備與數據分析要點(diǎn)。


1.粉末X射線(xiàn)衍射(PXRD)


PXRD用于判斷材料的晶型與相純度。通過(guò)將實(shí)驗衍射圖譜與基于單晶XRD數據模擬得到的圖譜進(jìn)行對比,可確認材料的相純度。樣品通常以粉末形式壓片或裝入毛細管中測定,并在測試過(guò)程中旋轉以避免特定取向造成的峰強差異。若衍射峰明顯展寬,通常表明晶粒尺寸較小而非結晶度差。


2.氮氣吸脫附等溫線(xiàn)分析


氮氣(N2吸脫附等溫線(xiàn)在77 K下測定,用于確認材料的孔隙結構、計算比表面積與孔容,并輔助判斷孔徑分布。為保證測量可靠,測試前樣品需充分活化以去除孔內溶劑,且樣品用量關(guān)鍵——通常樣品質(zhì)量(克)與比表面積(m2/g)的乘積應不少于100 m2。數據分析中,通常采用BET模型計算表面積,通過(guò)選取等溫線(xiàn)的線(xiàn)性區并滿(mǎn)足Rouquerol準則,可獲得準確的表面積結果。選區不當可能導致比表面積偏差高達數倍(見(jiàn)圖2、表1)。國儀量子Climber及SiCOPE系列儀器提供BET一鍵智能選點(diǎn)功能,可自動(dòng)識別正確線(xiàn)性區,消除人為偏差,即使是MOFs材料也能獲得可靠BET結果。


孔徑與孔容分析則多采用密度泛函理論(DFT)模型或BJH模型,其中DFT方法被廣泛用于MOFs的孔結構分析,尤其適用于孔徑約為2 nm或更小的介孔與微孔體系。國儀量子SiCOPE系列微孔分析儀配備MOFs專(zhuān)用NLDFT模型及多種BJH修正方法,為高精度孔徑分析提供可靠保障。若實(shí)驗孔徑分布與晶體結構模型存在明顯差異,可能提示框架缺陷、孔道堵塞或部分塌陷。吸脫附滯后環(huán)(hysteresis)亦可反映結構柔性或吸附質(zhì)誘導的孔結構變化。

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圖2 (a) Rouquerol圖,其中只有虛線(xiàn)左側的數據點(diǎn)應被選??;(b) 氮氣吸附/解吸等溫線(xiàn),顯示用于繪制c(綠色)和d(粉色)BET圖的區間;(c) BET圖,取自 p/p0 = 0.17?0.27;(d) BET圖,取自 p/p0 = 0.004?0.05;在c和d中,實(shí)線(xiàn)對應于 n(m) 時(shí)的 p/p0(Rouquerol準則(iii)),虛線(xiàn)對應于 1/√C + 1(Rouquerol準則(iv));在(c)中,實(shí)線(xiàn)未顯示,因為單分子層容量高于(b)中等溫線(xiàn)的最高點(diǎn)。


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表1 使用圖2中c部分(綠色)和d部分(粉色)擬合所得到的BET面積、斜率、截距、常數C、單分子層容量n(m)、R2、1/√C + 1以及n(m)對應的p/p0值



3.熱重分析(TGA)


TGA用于評估材料的熱穩定性及估算孔道中溶劑可及孔體積。測試載氣(如N2、空氣或O2)會(huì )顯著(zhù)影響分解行為,應在報告中說(shuō)明。結合變溫PXRD或吸附實(shí)驗,可進(jìn)一步驗證熱處理后結構的穩定性。對于含溶劑樣品,TGA中溶劑失重部分可粗略反映孔體積,但應注意因殘留或提前蒸發(fā)造成的誤差。


4.掃描電子顯微鏡(SEM)


SEM用于觀(guān)察晶體形貌與尺寸,并可結合能譜(EDS)分析元素組成及分布。由于MOFs多為絕緣體,易產(chǎn)生電荷積累導致成像偽影,通常需鍍導電層(如金或鋨)。電子束加速電壓的選擇也會(huì )影響圖像分辨率與表面細節:高電壓可獲得更清晰的晶體輪廓,但易損失表面信息甚至引起局部結構損傷。EDS定量分析時(shí)需避免鍍層元素信號干擾,如鋨鍍層中常含釔雜質(zhì),可能與目標金屬峰重疊。

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圖3 PCN-222(Fe)的SEM圖像,分別為有鋨鍍層(a和c)和無(wú)鋨鍍層(b和d),加速電壓分別為2 kV(a和b)或15 kV(c和d)。比例尺為5 μm。



5.其他輔助表征


ICP-OES/MS:用于定量分析金屬比例及檢測雜質(zhì)或浸出情況。樣品需經(jīng)酸消解完全溶解后再測試。

NMR光譜:通過(guò)消解法測定有機配體比例、殘留調節劑及溶劑去除情況;固態(tài)NMR則可探測框架中配體化學(xué)環(huán)境及分子相互作用。

DRIFTS紅外漫反射光譜:用于確認框架中特征官能團,并可在載氣或變溫條件下研究吸附行為。

綜上,多手段表征的結合能夠從結構、孔隙及化學(xué)組成等多個(gè)維度揭示MOFs材料的完整特征,為性能分析與機理研究提供可靠依據。


參考文獻:

1.Rouquerol 等,《粉體與多孔固體材料的吸附:原理、方法與應用》,第14章,Academic Press,2015。

2.Howarth等,Chem.Mater.2017,29,26-39.DOI: 10.1021/acs.chemmater.6b0262







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